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J4 ›› 2002, Vol. 24 ›› Issue (2): 80-83.

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通路时延测试综述

李华伟 闵应骅 等   

  • 出版日期:2002-02-01 发布日期:2010-05-19

  • Online:2002-02-01 Published:2010-05-19

摘要:

本文对目前通路时延测试领域的主要研究成果进行了综述,阐述了主要的通路时延可测试性及相应的单通路时延故障的分类,并介绍了三种精简通路集的通路时延测试方法。

关键词: 通路时延测试 通路时延故障 可测试性 时间特性