J4 ›› 2001, Vol. 23 ›› Issue (2): 79-83.
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刘蓬侠 曾芷德 等
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随着VLSI技术的发展和计算机性能的提高，并行测试生成系统不仅必需而且可行，本文在总结已有并行技术的基础上，提出了并行测试生成系统的一种动态层次框架，并给出了一种实现方案。
关键词: VLSI 并行测试生成系统 超大规模集成电路 并行计算机
刘蓬侠 曾芷德 等. VLSI并行测试生成系统的一种动态层次框架[J]. J4, 2001, 23(2): 79-83.
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