J4 ›› 2001, Vol. 23 ›› Issue (5): 70-73.
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刘蓬侠 曾芷德 等
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并行测试生成原型系统PATGTA基于串行ASIC测试生成和可测性分析系统ATGTA，采用PVM作为并行支撑环境，可方便地移植于各种并行计算环境，采用主从模式开发并集成了多种并行算法。对Benchmark-89电路的实验结果表明，PATGTA性能良好。
关键词: 专用集成电路 并行测试生成原型系统 算法集成
刘蓬侠 曾芷德 等. 一个多算法集成的灵活并行测试生成原型系统[J]. J4, 2001, 23(5): 70-73.
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