摘要：

测试算法评估及可测性预报系统使用回归分析和遗传算法，为测试生成算法建立可测性参数的预报模型，使得对于给定电路，不必实际运行各测试生成算法，就可以快速评估并预报出最适合的算法。本文整体介绍了这一系统，并对其中各主要模块作了重点描述。

关键词: 逻辑电路 测试算法评估 可测性预报系统 计算机