摘要：

本文针对门级扫描设计存在的面积、速度和测试时间问题，给出了一种开关级扫描插入方法，较好地解决了门级扫描设计面临的面积和速度问题，改进了测试时间问题。该方法对门级扫描设计有指导意义。

关键词: 可测试性 扫描设计 CMOS电路 开关级电路 数字电路 计算机