摘要：

基于边界扫描的电路板测试性设计中，迫切需要解决“测试性改善程度一定时，如何权衡设计使得设计复杂性最小”的问题，本文首先深入分析了该问题，证明它是一个NP－ 完全问题，然后基于贪婪策略提出了求解问题的优化算法，仿真实验表明，该算法能够得较优化的电路板测试性设计方案。

关键词: 边界扫描 电路板 测试性优化设计 贪婪策略