J4 ›› 2002, Vol. 24 ›› Issue (4): 68-70.
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张民选 张承义 等
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本文提出了一种简洁有效的，针对ASIC中记忆部件的易测试性设计技术，可消除部分不可测故障，提高故障覆盖率。
关键词: ASIC 记忆部件 易测试性设计 专用大规模集成电路 故障覆盖率
张民选 张承义 等. 针对ASIC中记忆部件的易测试性设计技术[J]. J4, 2002, 24(4): 68-70.
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