J4 ›› 2005, Vol. 27 ›› Issue (4): 31-35.
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徐拾义
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本文提出了一种对VLSI电路功能测试的方法，可以同时检测和定位VLSI电路输入和输出端上的固定故障和桥接故障，而不需要知道它们的内部逻辑结构。因而，对于简化测试 过程、降低测试成本，具有十分重要的实际意义。
关键词: 大规模数字集成电路 VLSI 列交换算法 标准矩阵 功能测试
徐拾义. 大规模数字集成电路标准矩阵功能测试新方法[J]. J4, 2005, 27(4): 31-35.
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