计算机工程与科学 ›› 2025, Vol. 47 ›› Issue (02): 276-287.
梁泰然1,蒋诗新2,3,李泉洲2,3,欧阳斌1,吕盛坪1
LIANG Tairan1,JIANG Shixin2,3,LI Quanzhou2,3,OUYANG Bin1,Lv Shengping1
摘要: 针对PCB生产中表面缺陷检测的需求,结合车间实际制定一个包含11种类别的缺陷分类标准,采集真实PCB表面缺陷图像,最终构建一个包含3 239幅图像4 672个缺陷目标的数据集Dataset_PCBSD。基于YOLOv5s改进得到一种新的PCB表面缺陷检测模型YOLOv5s-P6SE。为提高检测精度,在YOLOv5s中增加用于检测特大目标的P6检测层,引入了SE注意力模块和柔性非极大抑制后处理。实验结果显示,相较于基准模型YOLOv5s,YOLOv5s-P6SE在均值平均精度上提升了5.5%。同时,YOLOv5s-P6SE在mAP和模型大小上均优于Faster R-CNN、SSD、PCB缺陷检测模型YOLOv4-MN3以及DETR模型RT-DETR-L,且在平衡mAP和模型大小方面优于YOLOv8s。