中国计算机学会会刊
中国科技核心期刊
中文核心期刊
首页
期刊介绍
期刊荣誉
数据库收录
编委会
投稿指南
投稿须知
出版道德
期刊订阅
下载中心
联系我们
English
宽度和长度缩减对体硅和SOI nMOSFETs热载流子效应的影响
池雅庆1,2,刘蓉容1,陈建军1
Effect of channel width and length shrinking on
hot carrier effect in bulk and SOI nMOSFETs
CHI Yaqing1,2,LIU Rongrong1,CHEN Jianjun1
计算机工程与科学 . 2014, (
05
): 786 -789 .