摘要：

本文针对测试生成难点提出了加速功能块级测试生成系统速度并提高其处理能力的辅助方法－－功能块并法，并从理论上证明了算法的可行性，分析了算法可能引起的故障覆盖率损失，同时给出了补救方法。

关键词: 测试生成 算法复杂性 VLSI 集成电路