摘要：

本文在随机测试的基础上提出了逆随机测试（ART）的新概念，在该测试序列的集合中各测试码之间的海明距离为尽可能的大，这样可以使不同的测试码检测到更多不同的故障，从则提高了测试效率和故障覆盖率。本文给出了构造逆随机测试序列（ARTS）的详细过程，并且严格证明了该序列的高效和正确性，同时还给出了用Benchmark和其它电路作为例子的实验结果。

关键词: 组合电路 随机测试 超大规模集成电路 逆随机测试 故障覆盖率