摘要:
提出了一种基于数据驱动的集成电路故障预测与健康管理(PHM)模型,该模型基于反向传播(BP)神经网络算法,避免了对集成电路老化失效物理机理的依赖,能有效拟合集成电路失效的非线性函数关系。以已编程应用设计的FPGA为目标器件,通过实验提取参数样本进行模型训练,并将模型应用于实测验证。结果表明,该模型输出结果与实测结果吻合良好,能有效满足集成电路故障预测与健康管理的实际应用。
杜涛,阮爱武,汪鹏,李永亮,李平. 一种基于BP神经网络的集成电路PHM模型[J]. 计算机工程与科学.
DU Tao,RUAN Aiwu,WANG Peng,LI Yongliang,LI Ping.
A prognostics and health management model for
integrated circuits based on back propagation neural network
[J]. Computer Engineering & Science.