计算机工程与科学 ›› 2023, Vol. 45 ›› Issue (07): 1226-1235.
刘浩翰,孙铖,贺怀清,惠康华
LIU Hao-han,SUN Cheng,HE Huai-qing,HUI Kang-hua
摘要: 为提高工业零件表面缺陷的检测效率,提出一种基于改进YOLOv3的目标检测方法。引入目前最新的具有通道置换的注意力机制SA,将其与YOLOv3模型骨架结构Darknet-53的残差单元进行组合改进构成SA残差块结构,充分利用特征通道信息,得到YOLOv3-SA模型。针对不同数据集,对输入图像进行不同规模比例缩放,分别使用K-means方法对真实标框进行聚类以提高检测效率。实验结果表明,YOLOv3-SA模型查全率达95.4%,相比YOLOv3,mAP最多可提高约7%。